Sistemas Electrónicos Digitales (SEDG)
- Esta asignatura trata fundamentalmente del estudio de los microprocesadores/microcontrladores y de su utilización en el diseño de sistemas electrónicos. Avanza, por tanto, en el estudio de los circuitos digitales con un nuevo caso no considerado en la asignatura de Circuitos Electrónicos Digitales: los sistemas programables.
- Tras una revisión de los conceptos básicos de arquitectura de ordenadores vistos en Fundamentos de los Ordenadores, la asignatura se estructura alrededor de un microcontrolador concreto, el Motorola ColdFire MCF5272, sobre el que se introducen los aspectos básicos presentes en cualquier sistema realizado con éste o con cualquier otro microcontrolador.
- En la asignatura se tratan tanto los aspectos hardware (conexión, utilización de periféricos, temporizaciones, interrupciones, etc.), como software (programación en lenguaje ensamblador) de un sistema basado en microcontrolador. El dominio de ambos aspectos resulta fundamental para el posterior Laboratorio de Sistemas Electrónicos Digitales.
Introducción (0,1 créditos): Presentation del curso.
El sistema microprocesador (0,3 créditos): Elementos de un sistema microprocesador. El mercado actual de los microprocesadores.
Programación de la familia ColdFire (1 crédito): Programación en ensamblador. El modelo de programación del ColdFire. El juego de instrucciones del ColdFire: datos. El juego de instrucciones del ColdFire: control.
Arquitectura hardware del MCF5272 (0,8 créditos): Arquitectura del sistema. Terminales y señales externas. Configuración del sistema de memoria.
Excepciones en el sistema microprocesador (0,8 créditos): Excepciones. Interrupciones. Protección del sistema y gestión del consumo.
Entrada/Salida en el sistema microprocesador (1 créditos): Entrada/Salida. Entrada/Salida en paralelo. Entrada/Salida en serie.
Módulos de temporización en el sistema microprocesador (0,8 créditos): Temporizadores programables. Modulación por anchura de pulso.
Memorias en el Sistema Microprocesador (0,6 créditos): Memorias integradas VLSI. Memorias dinámicas.
- La asignatura se evalúa continuamente durante el curso y mediante un examen final realizado en la convocatoria de exámenes de Febrero. Si un alumno no asiste a clase y, por tanto, no se beneficia de la evaluación continua, su calificación final se obtiene sólo del examen de Febrero, necesitando al menos 5 de los 10 puntos del examen para aprobar la asignatura. Dicho examen incluye un problema relativo a un sistema completo como los realizados en clase a lo largo del curso, así como preguntas conceptuales o de orden práctico.
- Los alumnos que asistan a clase pueden sumar a la nota del examen final hasta 2 puntos adicionales como resultado de la evaluación continua durante el curso. Para ello se deben cumplir dos condiciones: obtener al menos un 0,8 en la evaluación continua (40% de los 2 puntos) y obtener al menos 4 de los 10 puntos del examen de Febrero. La evaluación continua se basa, entre otros, en la asistencia a clase, la participación en la misma con dudas o respondiendo a preguntas que pueda realizar el profesor, en la realización de exámenes breves en clase sin previo aviso, etc. Estos exámenes breves constan de preguntas cortas, tanto teóricas como prácticas, sobre la materia impartida hasta ese momento.
- Caso de no aprobarse la asignatura en Febrero, la nota de la evaluación continua se guarda hasta la convocatoria de Septiembre, obteniéndose la nota final en dicha convocatoria del mismo modo que en Febrero.
- Todos los exámenes de la asignatura se realizan sin libros ni apuntes. Sin embargo, no se pretende que los alumnos conozcan todos los detalles del microcontrolador ColdFire. Por ello, aquella información del Resumen Básico del ColdFire MCF5272 disponible en la página web de la asignatura que sea necesaria para la realización de un examen, será suministrada como parte del enunciado del mismo. Por tanto, es recomendable que el alumno se familiarice previamente con la forma de organización de la información en dicho documento, para así no perder tiempo en localizarla durante el examen.
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