La Cátedra bq en Tecnópolis



La Cátedra bq en Tecnópolis/ canal bq: https://www.youtube.com/watch?v=2w46PrMmnII
Álvaro Araujo y Octavio Nieto presentan la Cátedra bq en Tecnópolis (canal bq). Les acompañan los becarios de la Cátedra que explican sus proyectos y su visión de la Cátedra.
Seminario: Gestión de riesgos electromagnéticos en el mundo aeronáutico: ¿y si me cae un rayo?

El próximo martes, 2 de diciembre, a las 18:00 horas, en la Sala B-221 se impartirá la conferencia Gestión de riesgos electromagnéticos en el mundo aeronáutico: ¿y si me cae un rayo?.
La conferencia será impartida por Delia Rodríguez de Llera (Thales España).
Título: Gestión de riesgos electromagnéticos en el mundo aeronáutico: ¿y si me cae un rayo?
Defensa de Tesis Doctoral: "Diseño, desarrollo y evaluación de sistemas de traducción automática para reducir las barreras de comunicación de las personas sordas" por Dª Verónica López Ludeña

El próximo día 17 de noviembre, a las 11 horas, en Salón de Grados del edificio A, tendrá lugar la defensa y lectura de la Tesis Doctoral titulada "Diseño, desarrollo y evaluación de sistemas de traducción automática para reducir las barreras de comunicación de las personas sordas", su autora es D.ª Verónica López Ludeña y su Director es D.
Laboratorio de Materiales Funcionales: Eléctrico
El objetivo fundamental de la asignatura es proporcionar al alumno los conocimientos necesarios en el campo de la caracterización eléctrica de materiales funcionales y dispositivos con aplicaciones en tecnología electrónica.
Esta asignatura contribuye a alcanzar los SIGUIENTES objetivos de la titulación:
- Obj.1.- Conocer y comprender los fundamentos científicos del mundo de los materiales y sus interrelaciones entre la
- estructura, propiedades, procesado y aplicaciones.
- Obj.2.- Desarrollar capacidades y conocer la tecnología de los materiales para poder intervenir en los procesos de producción,
- transformación, procesado, control, mantenimiento, reciclado y almacenamiento de cualquier tipo de materiales.
- Obj.3.- Conocer el comportamiento mecánico, electrónico, químico y biológico de los materiales y saber aplicarlo al diseño,
- cálculo y modelización de los aspectos de elementos, componentes y equipos.
- Obj.4.- Conocer y saber aplicar los procedimientos para la evaluación de la seguridad, durabilidad y vida en servicio de los
- materiales.
- Obj.6.- Incentivar el gusto por la investigación científica.
La asistencia a las sesiones teóricas y prácticas de la asignatura es obligatoria permitiéndose un máximo de 3 faltas no justificadas. En el caso de que un alumno falte a más de 3 sesiones teóricas o prácticas de forma injustificada, se generará una calificación de suspenso.
La evaluación será continua basada en la asistencia y participación en el laboratorio y en las memorias realizadas en grupo con un responsable o coordinador de cada una que se establecerá al principio de curso. Existirá, además, una prueba final escrita de tipo test individual.
Porcentajes:
- Asistencia y participación en el laboratorio: 40 %
- Memorias de las prácticas: 40 %
- Evaluación final: 20 %
Laboratorio de Materiales Funcionales: Estructural - I
El objetivo de este laboratorio es que los estudiantes adquieran los conocimientos básicos sobre las técnicas más relevantes para la caracterización estructural de los materiales funcionales.
Esta asignatura contribuye a alcanzar los siguientes objetivos de la titulación:
- Objetivo 1. Conocer y comprender los fundamentos científicos del mundo de los materiales y sus
- interrelaciones entre la estructura, propiedades, procesado y aplicaciones.
- Objetivo 2. Desarrollar capacidades y conocer la tecnología de los materiales para poder intervenir en
- los procesos de producción, transformación, procesado, control, mantenimiento, reciclado y
- almacenamiento de cualquier tipo de materiales.
- Objetivo 3. Conocer el comportamiento mecánico, electrónico, químico y biológico de los materiales y
- saber aplicarlo al diseño, cálculo y modelización de los aspectos de elementos, componentes y equipos.
- Objetivo 4. Conocer y saber aplicar los procedimientos para la evaluación de la seguridad, durabilidad
- y vida en servicio de los materiales.
- Objetivo 5. Incentivar el gusto por la investigación científica.
1. Técnicas de caracterización con rayos X:
• Introducción a la técnica y a sus aplicaciones en Ciencias de Materiales (Ley de Bragg, estructura cristalina, difracción de rayos X, reflexión de rayos X, generación y fuentes de rayos X, tipos de difractómetros)
• Visita al Centro de Apoyo a la Investigación de Rayos X de la Universidad Complutense de Madrid
• Análisis de resultados experimentales: orientación cristalina, parámetro de red, tamaño de grano, estrés, densidad
2. Espectrofotometría de infrarrojos
• Introducción a la técnica y a sus aplicaciones en Ciencia de Materiales (Espectro electromagnético, fundamentos de la
espectrofotometría infarroja, vibraciones moleculares, tensión y flexión de enlaces, tipos de interferómetros)
• Descripción in-situ del equipo
3. Caracterización de materiales con haces de iones de alta energía
• Introducción a la técnica y a sus aplicaciones en Ciencia de Materiales (RBS, NRA, PIXE)
• Visita al Centro de Microanálisis de Materiales de la Universidad Autónoma de Madrid
• Análisis de espectros reales
Los alumnos podrán optar por el sistema de evaluación única o por el sistema de evaluación continua, de acuerdo con el procedimiento fijado por Jefatura de Estudios.
La evaluación única consistirá en la realización de un único examen final que tendrá un peso del 100% de la calificación.
La nota de los alumnos que opten por la evaluación continua corresponderá a la media ponderada del examen final (60%), de un trabajo (20%) que se expondrá en clase y de la participación activa en clase (20%).
Independientemente de la opción elegida la asistencia a todas las clases tanto teóricas como de laboratorio y de simulación es obligatoria.
Fabricación de Equipos Electrónicos (FEEL)
El curso se centra en el diseño y fabricación de equipos electrónicos. Se estudian cuestiones relacionadas con el diseño físico de
los sistemas electrónicos así como las diferentes tecnologías que se pueden utilizar para su fabricación. Para cada una se
analizan sus características más importantes, lo que permitirá seleccionar la tecnología más adecuada para la aplicación
específica. También se estudian los aspectos más importantes del diseño y la gestión de los procesos de fabricación, desde un
punto de vista industrial.
COMPETENCIAS ASIGNADAS A LA ASIGNATURA
CG6: Uso de la lengua inglesa.
CG9: Uso de Tecnologías de la Información y de las Comunicaciones.
CG12: Organización y planificación
CE-SE1: Capacidad de construir, explotar y gestionar sistemas de captación, transporte, representación, procesado, almacenamiento, gestión y presentación de información multimedia, desde el punto de vista de los sistemas electrónicos.
CE-SE3: Capacidad de realizar la especificación, implementación, documentación y puesta a punto de equipos y sistemas, electrónicos, de instrumentación y de control, considerando tanto los aspectos técnicos como las normativas reguladoras correspondientes.
CE-SE5: Capacidad de diseñar circuitos de electrónica analógica y digital, de conversión analógico-digital y digital-analógica, de radiofrecuencia, de alimentación y conversión de energía eléctrica para aplicaciones de telecomunicación y computación.
CE-SE9: Capacidad de analizar y solucionar los problemas de interferencias y compatibilidad electromagnética.
Tema 1: Diseño físico
1.1 Introducción a la fabricación de equipos electrónicos. Ciclo de producto
1.2 Consideraciones eléctricas de diseño.Integridad de la señal eléctrica.Interferencias. Compatibilidad electromagnética
1.3 Consideraciones mecánicas de diseño. Choque, vibración. Esfuerzos térmicos
1.4 Consideraciones térmicas de diseño. Métodos de transporte y evacuación del calor.
Tema 2: Circuitos impresos
2.1 Introducción a los circuitos impresos. Tipos. Clasificaciones
2.2 Materiales para circuitos impresos
2.3 Procesos generales de fabricación.
2.4 Técnicas de transferencia de imágenes
2.5 Pruebas en circuitos impresos
2.6 Circuitos impresos avanzados
Tema 3: Componentes
3.1 Tipos de componentes
3.2 Componentes de inserción: tipos de encapsulados. Características físicas
3.3 Componentes de montaje superficial: tipos de encapsulados. Características físicas
Tema 4: Ensamblado y pruebas
4.1 Proceso general de ensamblado.
4.2 Colocación de componentes de inserción. Máquinas de inserción
4.3 Soldadura de componentes de inserción. Soldadura por ola.
4.4 Colocación de componentes de montaje superficial. Tipos de máquinas de ensamblado
4.5 Soldadura por refusión de componentes de montaje superficial. Tipos de hornos.
4.6 Pruebas: in-circuit, JTAG y funcionales.
Tema 5: Organización de la producción
5.1 Introducción. Estructura general de una planta de producción
5.2 Tipos de procesos de producción
5.3 Planificación: capacidad, layout, programación
5.4 Gestión y control de la producción. Control estadístico de procesos.
5.5 Fiabilidad y mantenimiento
5.6 Simulación de procesos
Tema 6: Circuitos híbridos
6.1 Introducción. Tipos de circuitos híbridos
6.2 Híbridos de capa gruesa. Proceso de fabricación
6.3 Materiales para híbridos de capa gruesa
6.4 Diseño y ajuste de componentes
6.5 Componentes discretos. Colocación y soldadura
En convocatoria ordinaria, los alumnos serán evaluados mediante evaluación continua. No obstante, los alumnos que lo deseen podrán ser evaluados mediante un único examen final, siempre y cuando lo comuniquen al coordinador de la asignatura mediante solicitud presentada antes del día 6 de octubre de 2014 en el registro de la Escuela Técnica Superior de Ingenieros de Telecomunicación. Esta opción supone la renuncia a la evaluación continua.
CONVOCATORIA ORDINARIA: MODALIDAD EVALUACIÓN CONTINUA
La asignatura se aprobará cuando se obtenga una calificación mayor o igual a 5 puntos sobre un total de 10. Dicha calificación es la suma de las calificaciones correspondientes a las diferentes actividades de evaluación, con los siguientes pesos:
• Evaluación temas 1 a 3 (parcial): 40%
• Evaluación temas 4 a 6 (convocatoria oficial): 40%
• Participación en clase y resolución de ejercicios: 20%
En caso de obtener menos de 4 puntos en la evaluación de los temas 1 a 3, o desear subir nota, el alumno deberá presentarse a la recuperación, en la convocatoria oficial de examen, en cuyo caso la nota válida será la última obtenida, anulándose la anterior.
CONVOCATORIA ORDINARIA: EVALUACIÓN MEDIANTE UNA ÚNICA PRUEBA FINAL
La calificación de los alumnos que presenten la solicitud arriba referida será la obtenida en el examen final, a celebrar en la convocatoria oficial (13 de enero de 2015).
CONVOCATORIA EXTRAORDINARIA
La evaluación de la asignatura en su convocatoria extraordinaria se realizará mediante una única prueba final, a celebrar en la fecha que determine Jefatura de Estudios, con independencia de la opción elegida en la convocatoria ordinaria.
Electrónica e Instrumentación Básicas (EINB)
Tema 1: Instrumentación Básica y Laboratorio
1.1 Introducción. Señales y sus parámetros (Periodicidad, valor medio, eficaz, periodo, frecuencia) y regímenes (Transitorio, permanente)
1.2 Magnitudes eléctricas básicas y su medida. Elementos ideales y reales: Efectos de carga y corrección.
1.3 Osciloscopio: Propósito, funcionamiento global, Amplificadores verticales y modos de entrada, sondas, base de tiempos y sincronismo. Discretización, presentación y valores estimados. Modos dual, X-Y y funciones MATH. Resolución, exactitud y manejo básico
1.4 Multímetro digital: Visión general, uso como Voltímetro, amperímetro y óhmetro. Medidas en alterna y continua, Resolución, exactitud y manejo básico
1.5 Generador de funciones: Propósito, señales generables, offset. Circuitos equivalentes y limitaciones Manejo básico
1.6 Fuente de alimentación de laboratorio: Funcionamiento básico. Características ideales y reales. Modos, ajustes y limitaciones. Manejo básico
Tema 2: Componentes electrónicos en el laboratorio
2.1 Tipos principales y conceptos de tolerancia y serie
2.2 Comportamiento térmico y disipación de potencia. Tensión y corriente máximas
2.3 Conceptos de coeficientes de variación, deriva y de no linealidad.
2.4 Parámetros específicos más comunes de los tipos principales. Selección en catálogo y limitaciones
Tema 3: Conceptos básicos de amplificadores
3.1 Tipos de amplificadores :Tensión, corriente, transimpedancia y transconductancia
3.2 Parámetros característicos: Impedancias de entrada y salida, funciones de transferencia directa e inversa
3.3 Visión como cuadripolos y parámetros.
3.4 Asociación de amplificadores: Cascada, serie-serie, serie-paralelo, paralelo-serie y paralelo, paralelo
Tema 4: Circuitos con amplificadores operacionales ideales
4.1 Concepto de amplificador operacional. Características generales. Uso como comparador y como amplificador.
4.2 Circuitos amplificadores inversores y no inversores. Seguidores y rectificadores de precisión. Control de corriente por tensión
4.3 Elementos para instrumentación y cálculo operativo: Sumadores, restadores, amplificadores diferenciales, integradores y diferenciadores.
4.4 Estabilidad y realimentación: Astables y disparadores.
Tema 5: Amplificadores monoetapa con dispositivos discretos
5.1 Conceptos generales de polarización de dispositivos
5.2 Circuitos y técnicas básicas de polarización. Implementación para transistores bipolares y de efecto de campo. Estabilidad, deriva y sensibilidad.
5.3 Configuraciones básicas de amplificación en pequeña señal: Emisor-Fuente, Base-Puerta, Colector-Drenador comunes. Propiedades y variantes.
5.4 Comportamiento frente a excursiones grandes de señal y margen dinámico
5.5 Conmutadores analógicos básicos y sus propiedades.
Tema 6: Amplificadores multietapa
6.1 Efectos de la frecuencia en las configuraciones monoetapa: Caso de frecuencias medias y sus límites.
6.2 Amplificación multietapa con acoplo R-C y directo. Consideraciones de amplificación, margen de frecuencias, polarización y margen dinámico
Tema 7: Configuraciones básicas en circuitos integrados analógicos
7.1 Configuraciones diferenciales de entrada. Teorema de Bartlett. Polarización, parámetros y medidas
7.2 Bloques funcionales de polarización: Espejos de corriente y sus modificaciones. Cargas activas y cambiadores de nivel
7.3 Configuraciones de entrada estándar y sus propiedades: Transistor simple, pares Darlington y sus modificaciones, cascodo.
7.4 Configuraciones de salida:
La calificación de la asignatura se realizará mediante evaluación continua.
La asignatura se superará cuando se obtenga 5 o más puntos sobre un total de 10, según las normas que se indican a continuación.
NOTA FINAL = 10% Trabajo personal + 50% Controles conocimientos + 35% Prácticas Laboratorio y Seminario + 5% Asistencia, participación en clase y Trabajo Cooperativo
La calificación final se obtendrá a partir de cuatro componentes: El trabajo personal del alumno, las notas obtenidas en los controles de los temas y prácticas, las notas obtenidas en la realización de prácticas y memorias de laboratorio, y la asistencia y participación en clase. La contribución máxima a la calificación final de cada una de ellas y su contribución mínima necesaria para que el alumno pueda ser calificado según la fórmula anterior se indican en la tabla adjunta.
La asistencia es obligatoria: Tres faltas de asistencia al Laboratorio o seis a clases en aula sin justificar suponen su no calificación por evaluación continua. .
En cumplimiento de la Normativa de Evaluación de la Universidad Politécnica de Madrid, los alumnos que lo deseen serán evaluados mediante un único examen final, que constará de una parte teórica y otra práctica, siempre y cuando lo comuniquen al Director del Departamento de Tecnología Electrónica mediante solicitud presentada en el registro de la Escuela Técnica Superior de Ingenieros de Telecomunicación antes del día fijado por la Subdirección Jefatura de Estudios. Esta opción supone la renuncia a la evaluación continua.
Partes y Porcentajes | Contribución Máxima | Contribució Mínima para poder ser Evaluado |
Trabajo personal del alumno: Ejercicios, cuestionarios y problemas. (10 %) | 1,0 | 0,4 |
Evaluación Temas 1, 2 y 3 (20 %) | 2,0 | 0,8 |
Evaluación Temas 4,5,6,7 (30 %) | 3,0 | 1,2 |
Prácticas de Laboratorio Seminarios y memorias. (35 %) | 3,5 | 1,4 |
Asistencia y participación en clase y trabajo cooperativo. (5 %) | 0,5 | - |
Imágenes Biomédicas Avanzadas - II
Esta asignatura amplía los conocimientos adquiridos en la asignatura Imágenes Biomédicas en dos temas de gran actualidad
como son la imagen óptica y la imagen por resonancia magnética. Se estudiará la microscopía óptica, sus características,
instrumentación y aplicaciones en medicina y biología, considerando desde la microscopía óptica convencional y la microscopía
con marcadores fluorescentes hasta las nuevas técnicas de superresolución. También se estudiará la tomografía óptica, tanto
coherente como difusa, y la tomografía fotoacústica. La segunda parte de la asignatura ampliará los conocimientos adquiridos
en el curso anterior en imagen de resonancia magnética. Se presentarán procedimientos de adquisición rápidos y muy rápidos,
así como técnicas para ver espines en movimiento. Se prestará especial atención a la utilidad de estas técnicas en aplicaciones
clínicas y, en particular, en dos de las más importantes: la imagen cardiovascular y la neuroimagen.
Saber buscar, obtener e interpretar la información de las principales bases de datos biomédicas y bibliográficos.
Comprender los principios de la metodología científica; capacidad para su aplicación a la resolución de problemas en el campo de la ingeniería.
Conocer los principios y las técnicas de medida de las magnitudes más relevantes en Ingeniería Biomédica.
Conocer técnicas de muestreo y procesado de señales e imágenes para diversas aplicaciones en relación con la Ingeniería Biomédica.
Capacidad de análisis e interpretación de señales e imágenes biomédicas.
1. Imagen óptica
1.1. Principios físicos. Interacción entre luz y materia. Fluorescencia.
1.2. Microscopía óptica. Principios e instrumentación. Limitaciones
1.3. Microscopía confocal
1.4. Microscopía no lineal
2. Tomografía óptica
2.1. Tomografía óptica coherente (OCT)
2.2. Tomografía óptica difusa (DOT) y tomografía fotoacústica
3. Imagen de Resonancia Magnética
3.1. Formación y reconstrucción de MRI
3.1.1. Adquisiciones rápidas: secuencias rápidas y muy rápidas, adquisición en paralelo
3.1.2. Adquisición de espines en movimiento: contraste de fase, angiografía, difusión, perfusión
3.2. Aplicaciones
3.2.1. Imagen cardiovascular: secuencias CINE, adquisición segmentada, utilización de contraste, imagen navegada
3.2.2. Neuroimagen: perfusión difusión, imagen de tensores de difusión y tractografía, espectroscopía
Félix González, entre los representantes de los exbecarios Fullbright, recibe el Premio de Asturias 2014 de Cooperación Internacional


El 24 de octubre de 2014, Félix González Herranz, antiguo alumno de nuestra Escuela y actualmente colaborador invitado de la asignatura “Creatividad e Innovación” (optativa de 4º curso en el Grado en Ingeniería de Tecnologías y Servicios de Telecomunicación) que imparte nuestro Departamento, ha recibido el Premio de Asturias de Cooperación Internacional como representante español de los becarios Fullbright.
Líneas de investigación del HISEL premiadas con el Nobel en Física de 2014.


El premio Nobel de Física 2014 ha recaído este año en los investigadores japoneses Isamu Akasaki, Hiroshi Amano y Shuji Nakamura por el descubrimiento y desarrollo de diodos emisores de luz azul (LEDs) y la posterior fabricación de fuentes de luz blanca eficientes.