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Laboratorio de Materiales Funcionales: Estructural - I

Créditos Totales: 
4.0
Fechas de impartición: 
Primer semestre
Tipo de asignatura: 
Optativa
Objetivos docentes: 

El objetivo de este laboratorio es que los estudiantes adquieran los conocimientos básicos sobre las técnicas más relevantes para la caracterización estructural de los materiales funcionales.

Esta asignatura contribuye a alcanzar los siguientes objetivos de la titulación:

  • Objetivo 1. Conocer y comprender los fundamentos científicos del mundo de los materiales y sus
  • interrelaciones entre la estructura, propiedades, procesado y aplicaciones.
  • Objetivo 2. Desarrollar capacidades y conocer la tecnología de los materiales para poder intervenir en
  • los procesos de producción, transformación, procesado, control, mantenimiento, reciclado y
  • almacenamiento de cualquier tipo de materiales.
  • Objetivo 3. Conocer el comportamiento mecánico, electrónico, químico y biológico de los materiales y
  • saber aplicarlo al diseño, cálculo y modelización de los aspectos de elementos, componentes y equipos.
  • Objetivo 4. Conocer y saber aplicar los procedimientos para la evaluación de la seguridad, durabilidad
  • y vida en servicio de los materiales.
  • Objetivo 5. Incentivar el gusto por la investigación científica.
Programa: 

1. Técnicas de caracterización con rayos X:

• Introducción a la técnica y a sus aplicaciones en Ciencias de Materiales (Ley de Bragg, estructura cristalina, difracción de rayos X, reflexión de rayos X, generación y fuentes de rayos X, tipos de difractómetros)
• Visita al Centro de Apoyo a la Investigación de Rayos X de la Universidad Complutense de Madrid
• Análisis de resultados experimentales: orientación cristalina, parámetro de red, tamaño de grano, estrés, densidad

 

2. Espectrofotometría de infrarrojos

• Introducción a la técnica y a sus aplicaciones en Ciencia de Materiales (Espectro electromagnético, fundamentos de la
espectrofotometría infarroja, vibraciones moleculares, tensión y flexión de enlaces, tipos de interferómetros)
• Descripción in-situ del equipo
 

3. Caracterización de materiales con haces de iones de alta energía

• Introducción a la técnica y a sus aplicaciones en Ciencia de Materiales (RBS, NRA, PIXE)
• Visita al Centro de Microanálisis de Materiales de la Universidad Autónoma de Madrid
• Análisis de espectros reales

Evaluación: 

Los alumnos podrán optar por el sistema de evaluación única o por el sistema de evaluación continua, de acuerdo con el procedimiento fijado por Jefatura de Estudios.
La evaluación única consistirá en la realización de un único examen final que tendrá un peso del 100% de la calificación.
La nota de los alumnos que opten por la evaluación continua corresponderá a la media ponderada del examen final (60%), de un trabajo (20%) que se expondrá en clase y de la participación activa en clase (20%).
Independientemente de la opción elegida la asistencia a todas las clases tanto teóricas como de laboratorio y de simulación es obligatoria.

Profesorado
Coordinador: 
Más Información
Código de la asignatura: 
45000140
Titulación a la que pertenece: 
Número del curso al que pertenece dentro de la titulación: 
4
Conocimientos Previos: 

Electricidad y Magnetismo; Estructura de Materiales I y II; Física Cuántica; Instrumentación Electrónica;
Propiedades of Materiales I y II

Curso académico de impartición: 
2015-2016
Bibliografía: 

B. D. Cullity, Elements of X-ray diffraction. Addison Wesley Longman, Inc. (1978).
S. Perkowitz, Optical Characterization of Semiconductors: Infrared, Raman and Photoluminescence
Spectroscopy, Academic Press (1993).
W.-K. Chu, J. W. Mayer and M.-A. Nicolet, Backcattering Spectrometry, Academic Press (1978).
SIMNRA User's Guide, www.rzg.mpg.de/_mam
SRIM: The Stopping and Range of Ions in Matter. http://www.srim.org/

Tribunal
Secretario: